
Prüfung elektronischer Steckverbinder-Gehäuse mit CT-Technologie
Die Identifizierung interner Defekte und der korrekten Position der Steckerstifte in elektronischen Steckergehäusen ist entscheidend für die einwandfreie Funktion des Endprodukts. Die fortschrittliche CT-Technologie des ZEISS METROTOM 1 ist die perfekte Lösung, um tiefe Einblicke in elektronische Bauteile zu erhalten und ermöglicht eine schnelle und intuitive Bewertung und Verbesserung der Produktionsprozesse.